Texas Instruments / 8V182512IDGGREP
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8V182512IDGGREP
| निर्माता भाग संख्या: | 8V182512IDGGREP |
| उत्पादक: | Texas Instruments |
| विवरण का हिस्सा: | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
| लीड मुक्त स्थिति / RoHS स्थिति: | लीड फ्री / RoHS आज्ञाकारी |
| स्टॉक की स्थिति: | स्टॉक में |
| भेजने का स्थान: | Hong Kong |
| शिपमेंट रास्ता: | DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS |
- टिप्पणी
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सभी Eelctronics घटकों को ESD एंटीस्टेटिक सुरक्षा द्वारा बहुत सुरक्षित रूप से पैक किया जाएगा।
विनिर्देश
| प्रकार | विवरण |
|---|---|
| श्रृंखला | - |
| पैकेज | Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)Digi-Reel® |
| भाग की स्थिति | Active |
| तर्क प्रकार | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| वोल्टेज आपूर्ति | 2.7V ~ 3.6V |
| बिट्स की संख्या | 18 |
| परिचालन तापमान | -40°C ~ 85°C |
| माउन्टिंग का प्रकार | Surface Mount |
| पैकेज / मामला | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
| आपूर्तिकर्ता डिवाइस पैकेज | 64-TSSOP |
स्टॉक की अवस्था: उसी दिन शिपिंग
न्यूनतम: 1
| मात्रा | यूनिट मूल्य | एक्सटेंशन कीमत |
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कीमत उपलब्ध नहीं है, कृपया RFQ |
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माल ढुलाई गणना
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